文章摘要
魏鸿磊,蒋志留,徐家恒,孔祥志,商业彤,童强.芯片载带缺陷的机器视觉检测方法[J].包装工程,2022,43(11):183-188.
WEI Hong-lei,JIANG Zhi-liu,XU Jia-heng,KONG Xiang-zhi,SHANG Ye-tong,TONG Qiang.Machine Vision Detection Method for Chip Carrier Defects[J].Packaging Engineering,2022,43(11):183-188.
芯片载带缺陷的机器视觉检测方法
Machine Vision Detection Method for Chip Carrier Defects
  
DOI:10.19554/j.cnki.1001-3563.2022.11.024
中文关键词: 芯片载带  缺陷检测  机器视觉  图像异或运算
英文关键词: chip carrier  defect detection  machine vision  image XOR operation
基金项目:辽宁省教育厅2021年度科学研究经费面上项目(LJKZ0535,LJKZ0526);2021年度本科教育教学综合改革项目(JGLX2021020,JCLX2021008)
作者单位
魏鸿磊 大连工业大学 机械工程与自动化学院辽宁 大连 116034 
蒋志留 大连工业大学 机械工程与自动化学院辽宁 大连 116034 
徐家恒 大连工业大学 机械工程与自动化学院辽宁 大连 116034 
孔祥志 大连工业大学 机械工程与自动化学院辽宁 大连 116034 
商业彤 大连工业大学 机械工程与自动化学院辽宁 大连 116034 
童强 大连工业大学 机械工程与自动化学院辽宁 大连 116034 
摘要点击次数:
全文下载次数:
中文摘要:
      目的 针对芯片包装载带在生产过程中经常出现的型腔底部和边缘变形、穿孔等缺陷的检测问题,提出一种机器视觉检测方法。方法 首先离线准备配准模板及标准模板图像,然后根据模板在生产过程中进行在线检测。在检测过程中由传感器触发采集待检测型腔图像,然后通过模板匹配 方法配准模板图像和待检测图像,并进行异或运算检测两图像差异从而定位缺陷。结果 实验证明边缘变形检测最大错误率为0.45%,底部变形检测最大错误率为0.50%,穿孔检测最大错误率为0.35%,每帧图像检测平均耗时为0.22 s,满足用户错误率不超过1%和每帧耗时不超过0.5 s的要求。结论 该方法能够实时检测芯片载带边缘变形、穿孔等缺陷,有效地实现载带加工生产过程中的质量监控。
英文摘要:
      An efficient and accurate machine vision detection method was proposed to detect the deformation and perforation at the bottom and edge of the cavity of chip packaging carrier tape. The registration template and standard template images are prepared offline and then detected online during production. During the detection process, the cavity image to be detected is triggered by the sensor, and then the template image and the image to be detected are registered by the template matching method, and the XOR operation is performed to detect the difference between the two images so as to locate the defect. Experiments show that the maximum error rate of edge deformation detection is 0.45%, the maximum error rate of bottom deformation detection is 0.50%, and the maximum error rate of perforation detection is 0.35%. The average detection time of each frame is 0.22 s, which meets the user's requirement that the error rate is less than 1% and the time of each frame is less than 0.5 s. This method can detect the edge deformation and perforation of the chip in real time, and effectively realize the quality monitoring in the process of chip loading processing.
查看全文   查看/发表评论  下载PDF阅读器
关闭

关于我们 | 联系我们 | 投诉建议 | 隐私保护 | 用户协议

您是第22500650位访问者    渝ICP备15012534号-2

版权所有:《包装工程》编辑部 2014 All Rights Reserved

邮编:400039 电话:023-68795652 Email: designartj@126.com

    

渝公网安备 50010702501716号